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實(shí)驗(yàn)室恒溫恒濕控制設(shè)備
- 實(shí)驗(yàn)室恒溫恒濕控制設(shè)備主要功能: 該設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試,測(cè)試后,通過檢測(cè),來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
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產(chǎn)品詳情
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實(shí)驗(yàn)室恒溫恒濕控制設(shè)備
設(shè)備介紹:
溫度范圍:D:-70℃ ~ +150℃;C:-40℃ ~ +150℃;B:-20℃ ~ +150℃;A:0℃ ~ +150℃;
1、升溫速率:平均3℃/min(從+25℃升到+150℃、非線性空載);
2、降溫速率:平均1℃/min(從+25℃降到-70℃、非線性空載);
4、溫度波動(dòng)度:±0.5℃;
5、溫度偏差:≤±2.0℃;
6、極限低溫:-70℃;
7、極限高溫:150℃;
8、濕度范圍:20%~98%R.H;
9、濕度波動(dòng)度:±2.5%R.H.;
10、濕度偏差:≤±3%(≥75%);≤±5%(﹤75%)。
實(shí)驗(yàn)室恒溫恒濕控制設(shè)備主要功能:
該設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試,測(cè)試后,通過檢測(cè),來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。如需了解其他產(chǎn)品信息請(qǐng)聯(lián)系愛佩科技業(yè)務(wù)部門:0769-81015056。
實(shí)驗(yàn)室恒溫恒濕控制設(shè)備滿足標(biāo)準(zhǔn):
1、GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
2、GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
3、GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
4、GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備;
5、GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法;
6、GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法;
7、GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則。
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