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標(biāo)準(zhǔn)恒溫恒濕試驗(yàn)箱

  • 標(biāo)準(zhǔn)恒溫恒濕試驗(yàn)箱主要用于測(cè)試工業(yè)產(chǎn)品在恒濕、恒高溫,恒低溫的不同氣候環(huán)境下的使用,運(yùn)輸和儲(chǔ)存時(shí)的性能試驗(yàn)、實(shí)驗(yàn),主要用于對(duì)電工,電器、電子、光電產(chǎn)品,包括所有工業(yè)品的元器件,零部件,金屬材料及其在模擬濕熱、高溫,低溫的不同氣候條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行試驗(yàn),試驗(yàn)測(cè)試后,通過(guò)檢定后的成果來(lái)判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求或者標(biāo)準(zhǔn),以便提供產(chǎn)品的改良,設(shè)計(jì),生產(chǎn),檢定及出廠檢驗(yàn)使用。
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    標(biāo)準(zhǔn)恒溫恒濕試驗(yàn)箱


    設(shè)備介紹:

    標(biāo)準(zhǔn)恒溫恒濕試驗(yàn)箱主要用于測(cè)試工業(yè)產(chǎn)品在恒濕、恒高溫,恒低溫的不同氣候環(huán)境下的使用,運(yùn)輸和儲(chǔ)存時(shí)的性能試驗(yàn)、實(shí)驗(yàn),主要用于對(duì)電工,電器、電子、光電產(chǎn)品,包括所有工業(yè)品的元器件,零部件,金屬材料及其在模擬濕熱、高溫,低溫的不同氣候條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行試驗(yàn),試驗(yàn)測(cè)試后,通過(guò)檢定后的成果來(lái)判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求或者標(biāo)準(zhǔn),以便提供產(chǎn)品的改良,設(shè)計(jì),生產(chǎn),檢定及出廠檢驗(yàn)使用。
    標(biāo)準(zhǔn)恒溫恒濕試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù):

    型號(hào):AP-HX-80/AP-HX-150/AP-HX-225/AP-HX-408/AP-HX-800/AP-HX-1000

    內(nèi)箱尺寸(W×H×D)cm:80L:40×50×40; 150L:50×60×50; 225L:50×75×60;408L:60×85×80;800L:100×100×80;1000L:100×100×100;備注更多非標(biāo)尺寸可來(lái)電愛(ài)佩龍小姐13316686114非標(biāo)定制。

    外形尺寸約(W×H×D)cm:80L:93×131×81,150L:103×141×91, 225L:108×162×112,408L:117×172×132, 800L:160×187×132, 1000L:150×195×165;備注:非標(biāo)設(shè)備的外形尺寸請(qǐng)以實(shí)際尺寸為準(zhǔn)。

    容積(L) :80L,150L,225L,408L,:800L,1000型可選擇。

    溫度笵圍:0℃、-20℃、-40℃、-70℃~150℃

    濕度笵圍 :20%~98%RH(可根據(jù)客戶要求定做:低濕型可達(dá)到5%RH或更高)

    升溫速度 :RT~150℃約30min

    降溫速度:RT~0℃約20min;RT~-20℃約40min;RT~-40℃約60min;RT~-70℃約100min

    溫度分布均度 :±2℃

    溫度穩(wěn)定度:±0.5℃

    濕度分布均度:±3%

    濕度穩(wěn)定度 :±2%RH

    程控 :120組1200段編程,999次循環(huán)設(shè)定,并附多組PID控制功能,附RS-232計(jì)算機(jī)接口控制(還可以定制為USB接口)。

    愛(ài)佩品牌標(biāo)準(zhǔn)恒溫恒濕試驗(yàn)箱滿足GB/T 2423.34-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ZAD:溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn);GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備;GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法;GB/T 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備;GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法;GB/T 2423.3-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法;GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  試驗(yàn)N 溫度變化試驗(yàn)方法;GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db: 交變濕熱(12h+12h循環(huán));GB/T 10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》;GB/T10592-2008《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》;GB/T 10586-2006《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》;MIL-STD810D方法502.2 美國(guó)軍用標(biāo)準(zhǔn);GJB 150.9-1986 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn);IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程.第2部分:第1節(jié).試驗(yàn).試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)等標(biāo)準(zhǔn)。


     

     

     

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